GE nanomexen180 DXR三维CT选项的高分辨率180kV微/纳米焦X射线检测系统

GE nanomexen180 DXR三维CT选项的高分辨率180kV微/纳米焦X射线检测系统
凤凰微波|x/纳米|x 具有三维CT选项的高分辨率180kV微/纳米焦X射线检测系统 独特的特征 • 温度稳定数字DXR探测器,具有主动冷却,用于 高动态带电成像 • 180k V/20W大功率微/纳米焦管,最多 0.5µm或0.2µm细节可探测性 • 基于CADµAXI编程和自动检查的X|行为包 • 钻石|窗口,在相同的高图像质量水平下,数 据采集速度可达2倍 • 可选的3D计算机断层扫描在10秒内 微型/纳米体|x-你的优势 • 由于高动态GEDXR数字探测器阵列,精彩的现场检测图像 • 独特大功率180kV/20W亚微米或 甚至高吸收电子样品的纳米聚焦*管 • 由于高效自动化,安装时间最小化 CAD编程 • 现场覆盖CAD和检查结果,即使在旋转 斜向检查视图 • 极高的缺陷覆盖率和重复性 • 细节可探测性降至0.5µm甚至0.2µm • 可选Flash! 过滤器tm 图像优化技术 • 可选的高分辨率高级故障分析 3D微或纳米CT® 或大板平面CT • 可选的3D CT扫描长达10秒

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